2.5次元投影儀測(cè)頭使用常識(shí)

測(cè)頭是2.5次元投影儀重要的組成部分，在2.5次元投影儀的應(yīng)用中發(fā)揮著巨大的作用。測(cè)頭可以分為兩種，分別是：掃描測(cè)頭和觸發(fā)測(cè)頭，目前的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x使用zui多的是觸發(fā)測(cè)頭。下面，我們就對(duì)觸發(fā)測(cè)頭的使用進(jìn)行介紹。

觸發(fā)式測(cè)頭使用：

    一、觸發(fā)式測(cè)頭比掃描測(cè)頭快，觸發(fā)測(cè)頭體積較小當(dāng)測(cè)量空間狹窄時(shí)測(cè)頭易于接近零件；

    二、零件所被關(guān)注的是尺寸(如小的螺紋底孔)、間距或位置，而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差(如定位銷孔)；

    三、或你確信你所用的加工設(shè)備有能加工出形狀足夠好的零件，而注意力主要放在尺寸和位置精度時(shí)，接觸式觸發(fā)測(cè)量是合適的，特別是由于對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量；

    四. 一般來講觸發(fā)式測(cè)頭使用及維修成本較低；

    由于目前的機(jī)械工業(yè)需要測(cè)量大量的幾何量，所關(guān)注的僅是工件的尺寸及位置，所以目前市場(chǎng)上的大部分2.5次元投影儀，仍然使用接觸式觸發(fā)測(cè)頭，特別是中等精度2.5次元投影儀。

    對(duì)于2.5次元投影儀操作人員來說，測(cè)頭知識(shí)是必須要了解的。因?yàn)檫@是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)zui基本的使用常識(shí)，只有了解并掌握了才有可能完成測(cè)量任務(wù)。